測(cè)厚儀
測(cè)厚儀是一種高精度的測(cè)量設(shè)備，專門用于測(cè)定各種薄膜、薄片、紙張、箔片等材料的厚度。這類儀器在包裝、塑料、造紙、電子、半導(dǎo)體等行業(yè)中至關(guān)重要，確保產(chǎn)品的一致性和質(zhì)量控制。
泉科瑞達(dá)薄膜測(cè)厚儀設(shè)計(jì)遵循如GB/T6672等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，分辨率可達(dá)0.01μm，適用于不同硬度的薄膜。
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